1 动机
在开发电子设备和系统时，与开发相关的电磁兼容性 (EMC) 测试是必不可少的部分。在这种情况下，电子元件本身的特性变得更加重要，例如集成电路 (IC) 的电磁兼容性。
关于整个设备或系统的兼容性，建议使用具有高抗扰度和低辐射水平的 IC。在特定情况下，这可以决定设备是否满足其电磁兼容性要求。*个实际的例子是设备，其外壳不具有导电表面，因此不具有屏蔽特性。在这种情况下，来自环境的干扰量可能会在更大程度上耦合到设备中，从而导致电磁干扰。因此，设备内产生的干扰量可以在更大程度上耦合到环境。
为了确保*般的电磁兼容性，或者特别是没有屏蔽外壳的设备，必须优化电路以及电路布局。这可以包括仅使用满足抗扰度和辐射要求的 IC。
为了评估和比较集成电路，Langer EMV-Technik GmbH 开发了不同的 IC 测试系统。在下*篇文章中，将介绍这些系统，包括对当前存在的标准化测试和测量技术的分配。
2 现行标准概述
对于测试集成电路的电磁兼容性，存在不同的标准。IEC 61967 中规定了电磁辐射测试，IEC 62132 中规定了电磁抗扰度测试。IEC 62215 中单独考虑了瞬变抗扰度。例如，该标准参考了 IEC 61000-4-4 中定义的测试脉冲和 IEC 61000-4-5（突发、浪涌）。表 1给出了上述标准中指定的选定测试方法的概述。
3 集成电路测试系统
为了测量 IC 的抗扰度和辐射，Langer EMV?Technik GmbH 开发了不同的测试系统。这些特别适用于评估和比较 IC 的特性。表 2概述了当前可用的测试系统。
通常，IC 测试系统具有以下优势，即可以识别由 IC 的敏感性引起的干扰或错误模式，这些干扰或错误模式通常在设备或系统的 EMC 测试期间**观察到在 IC 的 EMC 测试期间。这意味着，已经可以在 IC *别采取适当的反制措施。此外，如果 IC 的 EMC 相关特性可用，则可以根据应用的要求选择相应的 IC。